Magna Concursos

Foram encontradas 100 questões.

92502 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Enunciado 3546386-1

Internet: <openlearn.open.ac.uk>.

A figura I acima corresponde ao resultado da medida realizada com um microscópio de varredura de tunelamento (STM) na superfície de uma amostra de grafite pirolítico. Nessa imagem, aparecem apenas a metade dos átomos presentes na superfície da amostra. A distância interatômica medida é de 0,25 nm. Na figura II, é apresentada a estrutura esperada para a superfície desse material, com distância interatômica igual a 0,14 nm. Com base nessas informações, é correto afirmar que a imagem I

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92501 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Do ponto vista instrumental, um microscópio de varredura de tunelamento é composto de

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92500 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

O princípio de funcionamento do microscópio de varredura de tunelamento consiste no controle de uma corrente eletrônica entre a ponta de prova e a superfície da amostra. Essa corrente eletrônica resulta

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92499 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Toda uma família de microscopias de ponta de prova foi desenvolvida nas últimas duas décadas. Considerando que cada técnica se baseia em diferentes princípios de interação entre a ponta de prova e a amostra, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92498 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

O desenvolvimento de superfícies estruturadas e a miniaturização de componentes em escala nanométrica exige o desenvolvimento de modos de medidas de alta resolução. Quanto a esse assunto, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92497 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Na caracterização de dispositivos semicondutores nanométricos, é de extrema importância a determinação de suas propriedades elétricas. Em relação a esse processo, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92496 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

O desenvolvimento de nanodispositivos demanda a utilização de novas técnicas de caracterização nos processos de metrologia. Determinar a constante elástica de uma barra de dimensões milimétricas é relativamente mais simples do que determinar esse mesmo parâmetro em uma barra nanométrica. Acerca das técnicas de microscopia de força atômica, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92495 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Caso uma empresa tenha desenvolvido um novo filme protetor para superfície de discos rígidos de computador e deva realizar testes de qualidade de resistência a risco desse novo material, as técnicas de microscopia mais apropriadas para realizar essa tarefa serão as de microscopia

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92494 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

A técnica de microscopia de força química, uma variante da microscopia de força atômica, utiliza pontas de prova recobertas com ouro e quimicamente funcionalizadas. Acerca dessa técnica, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas
92493 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

Com relação à microscopia de força magnética, assinale a opção correta.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas