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Respondida
3911730
Ano:
2025
Disciplina:
Engenharia de Materiais
Banca:
VUNESP
Orgão:
UNESP
Provas:
Assistente de Suporte Acadêmico III - Análise de Imagens e Caracterização de Materiais
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A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque
A
o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.
B
a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.
C
o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.
D
irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.
E
a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.
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