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Respondida
1388152
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - FILFIN
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Tópicos avançados em microeletrônica
Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos, utilizando-se, para isso, a difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar
A
o estiramento das moléculas.
B
a densidade areal do filme.
C
a composição física do filme.
D
a estrutura do filme formado.
E
a microestrutura do filme formado.
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