não são desejáveis elétrons secundários e elétrons retroespalhados.

os elétrons secundários resultam da baixa interação do feixe eletrônico com a amostra, formando imagens de baixa resolução.

amostras metálicas podem ser observadas sem recobrimento, desde que a faixa de tensão usada no microscópio seja apropriada ao material em estudo.

regiões não condutoras produzidas pelo excesso de cargas negativas conferem alta resolução de imagem.

íons metálicos como: liga de ouro-paládio (Au-Pd) e platina (Pt) não podem ser utilizados no recobrimento por deposição.