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3399839 Ano: 2014
Disciplina: Física
Banca: UFRJ
Orgão: UFRJ

O Vocabulário Internacional de Metrologia (VIM 2008) apresenta um sistema de conceitos fundamentais e gerais utilizados em metrologia. Com relação à rastreabilidade metrológica, é correto afirmar que:

 

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Técnico de Laboratório - Metrologia

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