Magna Concursos
1840602 Ano: 2014
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INPI
Em geral, uma medição pode apresentar diferentes tipos de erro, entre os quais se incluem o sistemático, que resulta, por exemplo, do processo de calibração de um medidor; e o estatístico, que é ocasionado por pequenas falhas de procedimentos ou limitações do observador, como o efeito de paralaxe na leitura de escalas de instrumentos.
 

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Tecnologista do INPI - Topografia de Circuitos

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