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Respondida
1403798
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - FOTOLI
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Tópicos avançados em microeletrônica
Para verificar erros de alinhamento em dispositivos, podem ser utilizados dispositivos
A
elétricos simples e medidas de resistência.
B
observados do posicionamento da porta do transistor MOS.
C
alternativos além das marcas de alinhamento.
D
por interferometria ótica.
E
por microscopia holográfica.
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