W. Richard Bowen e Nidal Hilal. Atomic

force microscopy. In: Process Engineering. Ed. Butterworth-Heinemann, 2009, p. 5.

A figura acima apresenta um gráfico de distância da ponta de prova versus a força que atua nessa ponta. Considerando os diferentes modos de medidas nos microscópios de força atômica e os limites indicados pelas setas na figura, é correto afirmar que