Magna Concursos
1717605 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
Provas:

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.

 

Provas

Questão presente nas seguintes provas

Tecnologista Pleno B4

70 Questões