A utilização de estresses para acelerar falhas é uma importante ferramenta para promover a melhoria da confiabilidade em produtos eletrônicos. Ela pode ser aplicada de diversas formas e para a obtenção de resultados distintos. Com base nisso, ao longo dos tempos, diferentes técnicas de utilização de estresses foram desenvolvidas em cima do princípio central da precipitação antecipada de defeitos latentes no produto. Associe a coluna da direita com a da esquerda de acordo com técnicas utilizadas e a definição de cada uma delas.

(1) Ensaio de Vida Altamente Acelerado (HALT)

(2) Ensaio de Vida Acelerado (ALT)

(3) Ensaio de Estresse Altamente Acelerado (HAST)

(4) Ensaio de Estresse Acelerado (AST)

( ) É o processo de aplicar estresses ambientais a uma amostra do produto por um período determinado. Os níveis de estresses aplicados encontram-se acima das condições normais de operação, porém abaixo dos limites destrutivos do produto, os quais são definidos a partir de ensaios experimentais prévios ou dados históricos.

( ) Esse é um ensaio de estresses múltiplos de níveis muito elevados, usualmente realizados para identificar modos e mecanismos de falha no nível de componentes individuais como microcircuitos, com o intuito de melhorar os processos produtivos. Os níveis de estresse do ensaio aproximam-se e muitas vezes excedem os limites de projeto para os componentes.

( ) Esse é um ensaio de processo destrutivo no qual o estresse aplicado é aumentado em degraus até a unidade falhar. O estresse aplicado é bastante agressivo, levando o produto muito além dos limites operacionais.

( ) Tem como base a aplicação de estresses acima das condições de operação nominais e abaixo dos limites destrutivos, em uma amostra do produto, é continuado até que a falha aconteça.

Assinale a alternativa que contém a ordem CORRETA de associação, de cima para baixo.