Por meio da microscopia ótica (MO), técnica em que o aumento máximo está em torno de 2.000 vezes, tanto as amostras translúcidas como as opacas podem ser analisadas.

Para amostras de material opaco, as análises podem ser feitas usando-se a MEV ou a MO e, nesse caso, tanto a superfície do material quanto a parte interna são analisadas.

Na MO, o contraste da imagem é o resultado da reflectividade do feixe de elétrons que incide na amostra.

Na MEV, o material a ser analisado é irradiado por um fino feixe de elétrons, em vez de radiação por luz visível.

Na MEV, uma amostra de espessura extremamente fina é tanto analisada com relação à superfície do material quanto à sua espessura, pois os elétrons que transpassam o material são também coletados no detector.