No contexto de melhorar a testabilidade e a cobertura de falhas de um sistema digital, pode-se:

1 - Criar mecanismos para aumentar a observabilidade e a controlabilidade das interconexões lógicas internas do sistema sob teste, em relação às entradas e saída primárias, ou mesmo, aumentar o número destas entradas e saídas.

2 - Aumentar a frequência de operação do circuito sob teste, para executar um número maior de testes funcionais em menor tempo.

3 - Desabilitar todos os registradores internos para poder testar todas as portas lógicas como se o circuito fosse composto apenas por lógica combinacional.

4 - Criar um circuito complementar que emule as falhas possíveis do circuito sob teste.

Estão corretas apenas as afirmativas: