Magna Concursos
Questões
Planos
Entrar
Entrar
Criar Conta
Respondida
1377516
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - LABANA
Provas
×
Tópicos avançados em microeletrônica
Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.
A
Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
B
É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
C
As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
D
Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
E
Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.
Resolver
Comentários
0
×
Cadernos
×
Flashcards
×
Estatísticas
×
Reportar um erro
×
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - LABANA
50 Questões
Resolver Prova
Publicar
Responder
Qual o problema da questão?
Selecione uma opção
Questão Desatualizada
Questão Repetida
Gabarito Errado
Outros Motivos
Mensagem
Enviar
Acessar
Criar Conta
Acesse sua Conta
Google
Facebook
Esqueci minha senha
Acessar
Ainda não tem conta?
Crie uma
!
Crie uma Conta
Criar Conta
Olá, para continuar, precisamos criar uma conta!
É
rápido
e
grátis
.
Google
Facebook
Concordo com os
Termos de Uso
Criar
Já tem uma conta?
Acesse aqui