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Respondida
1413666
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - LABANA
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Tópicos avançados em microeletrônica
No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que
A
só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.
B
a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.
C
a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.
D
um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.
E
o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.
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