Questão 1407986

1407986 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC

Provas:

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, pode-se afirmar, EXCETO:

O canhão de íons usualmente é de Ga⁺, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.

Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.

Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga⁺, a amostra é atacada.

Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI.

A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.

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