Elétrons secundários são mais facilmente ejetados de superfícies polidas, facilitando assim o contraste.

O sinal de elétrons secundários é afetado pela variação topográfica o que proporciona a geração de contraste.

O contraste topográfico de superfícies com relevo acentuado é facilmente obtido pela detecção de elétrons retroespalhados.

Imagens de superfícies com relevo acentuado são difíceis de serem obtidas por terem baixa capacidade de escape de elétrons.

Elétrons secundários por serem oriundos de profundidades maiores da pêra de interação são menos influenciados pelo efeito da topografia.