A respeito de Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET ou TEM, em inglês), marque V se a afirmativa é verdadeira e F se a afirmativa é falsa.
( ) A imagem vista é formada por um feixe de elétrons que passam através da amostra.
( ) Contrastes na imagem são produzidos por diferenças no espalhamento ou difração do feixe produzido entre os vários elementos da microestrutura ou do defeito.
( ) Uma vez que os materiais sólidos são altamente absorvedores dos feixes de elétrons, uma amostra para ser examinada deve ser preparada na forma de uma lâmina muito fina.
Marque a alternativa que apresenta a sequência correta de cima para baixo:
