Sobre a técnica de difração de raios X (DRX) de amostras policristalinas, são feitas as seguintes afirmações:

I. O padrão de difração de uma amostra policristalina pode ser utilizado para identificar as diferentes fases cristalinas presentes nela.

II. Para amostras policristalinas de nanopartículas, quanto mais largos os picos de difração, maior será o tamanho médio das nanopartículas.

III. A posição de um pico de difração (2θ) é independente da fonte de radiação utilizada.



É correto afirmar que