Analise as afirmações feitas a seguir sobre um microscópio eletrônico de varredura (MEV) com elétrons gerados por emissão termo-iônica a partir de um filamento aquecido de tungstênio e depois acelerados e colimados para gerar um feixe de elétrons com energia cinética igual a 10keV, o qual é focalizado sobre uma amostra.

I. Os elétrons do feixe incidente ao atingirem a amostra vão gerar emissão de raio-X.

II. Os elétrons do feixe incidente ao atingirem a amostra vão gerar ionização da amostra e consequente emissão de elétrons (elétrons secundários) pela mesma.

III. O aquecimento necessário para geração de elétrons não tem nenhuma consequência sobre o tempo de vida útil do filamento.

IV. O comprimento de de Broglie dos elétrons do feixe incidente sobre a amostra corresponde à distância que pode ser resolvida pelo MEV.

V. Para focalizar o feixe primário sobre a amostra, utilizam-se exclusivamente lentes eletrostáticas, pois campos magnéticos não poderiam defletir o feixe de elétrons.

Assinale a alternativa que lista apenas afirmações verdadeiras.