Seja um “wafer” (disco de silício) com densidade de defeitos de 4 defeitos/cm². Suponha que, a partir do “wafer” produzido, sejam obtidos chips de 2 mm x 2 mm. Pode-se afirmar que o “yield” para cada tipo de chip será, respectivamente, igual a: (para o cálculo do “yield” considere o modelo de Murphy e considere e^-0,01 = 0,99)