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Respondida
1375581
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - PRTEVA
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Tópicos avançados em microeletrônica
Em um projeto com a aplicação de metodologia voltada para testabilidade (DFT), visa-se:
A
aumentar as saídas primárias e a observabilidade dos defeitos internos.
B
aumentar o número de entradas primárias para facilitar o acesso aos internos do circuito.
C
diminuir a complexidade dos equipamentos de teste automático.
D
facilitar a aplicação do processo de teste.
E
não se aplica metodologia com esse objetivo.
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