Leia atentamente as afirmativas abaixo.
I – Em temperaturas inferiores à 580o C, os filmes de silício depositados são policristalinos.
II – A recristalização de filmes amorfos dá origem a estruturas fortemente texturizadas.
III – O tamanho de grão do polissilício oriundo da recristalização do filme de silício amorfo é menor que o tamanho do grão do filme de polissilício como depositado.
Assinale a alternativa com a(s) afirmativa(s) correta(s).
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