Focalizar o feixe de elétrons no plano imagem; transladar o feixe de elétrons e posicioná-lo no centro da tela de fósforo do microscópio; desfocalizar o feixe de elétrons para a condição underfocus (sob-foco); centralizar a abertura da condensadora.

Focalizar o feixe de elétrons no plano imagem; inclinar o feixe de elétrons e posicioná-lo no centro da tela de fósforo do microscópio; desfocalizar o feixe de elétrons para a condição underfocus (sob-foco); centralizar a abertura da condensadora.

Focalizar o feixe de elétrons no plano imagem; ativar a função wobbler para oscilar a corrente da lente objetiva; ajustar a abertura da condensadora de modo que o feixe abra e feche geometricamente; desativar a função wobbler.

Desfocalizar o feixe de elétrons para a condição underfocus (sob-foco); ativar a função wobbler para oscilar a corrente da lente objetiva; ajustar a abertura da condensadora de modo que a amostra oscile na mesma posição sem ocorrer deslocamento; desativar a função wobbler.

Desfocalizar o feixe de elétrons para a condição overfocus (sobre-foco); ajustar a abertura da lente condensadora para maximizar o brilho da imagem.