O estudo topográfico de varredura utiliza, para a geração de imagens, elétrons secundários produzidos por ionização da amostra e da camada metálica que a reveste. De acordo com Silveira (2011), em Técnicas de Microscopia Eletrônica Aplicadas às Ciências Biológicas, os parâmetros mais importantes para a formação de imagens no Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) são: