Magna Concursos
84020 Ano: 2008
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI

material

condutividade
térmica
(W/cm.K)
coeficiente
de expansão
térmica
(10-6 x K-1 )
constante
dielétrica
resistência
elétrica
(!$ \mu \Omega !$. cm)

metais:

prata

4,3 19,0 1,6

cobre

4,0 17,0 1,7

alumínio

2,3 23,0 2,8

tungstênio

1,7 4,6 5,3

molibdênio

1,4 5,0 5,3

semicondutor:

silício

1,5 2,5

substratos isolantes:

11,8

carbeto de silício (SiC)

2,2 3,7 42,0

óxido de berílio (BeO)

2,0 6,0 6,7

óxido de alumínio

0,3 6,0 9,5

(AR2O3)

dióxido de silício (SiO2)

0,01 0,5 3,9

poliimido

0,004 3,5

resina de epóxi

0,004 15,0 5,0

H. B. Bakoglu. Circuits, interconnections and packaging for VLSI. 1.ª ed., EUA: Addison-Wesley, 1990.

Considerando os dados apresentados na tabela acima, julgue o item.

O dióxido de silício pode ser depositado mais facilmente que o pollimido, que é um polímero orgânico.

 

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