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Respondida
1395781
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - AGPFAB
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Tópicos avançados em microeletrônica
Qual componente do rendimento (yield) de um processo é independente da área do circuito integrado (die) sendo calculada utilizando análise de aglomerados (cluster analysis)?
A
Aleatória (Random).
B
Aglomerada (Cluster).
C
Sistemática (Systematic).
D
Determinística (Deterministic).
E
Gaussiana.
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