A técnica I possibilita o cálculo do espaçamento interplanar do retículo cristalino; a técnica IV baseiase em mudanças dos índices cristalográficos, a partir de comparação com amostra-padrão (alumina) a alta temperatura.

A técnica III baseia-se na geração de radiação secundária da amostra pela interação entre feixe colimado de elétrons e átomos da amostra; a técnica II exige digestão prévia da amostra do minério com reagentes para permitir sua adequada nebulização dentro do aparelho.

A técnica I baseia-se na excitação dos átomos da amostra por feixe monocromático de raios X; na técnica I aplicada à amostra de mica pulverizada abaixo de 0,074mm, o acamamento preferencial das partículas lamelares do mineral facilita a análise difratométrica.

As técnicas I e III fornecem análise mineralógica como resultado; as técnicas II e IV fornecem análise elementar como resultado.

O chamado método do pó é uma modalidade da técnica I; as técnicas II e III baseiam-se na resposta de átomos da amostra a radiações eletromagnéticas características, fornecendo diretamente análise elementar, mas não mineralógica.