Questão 1384004

1384004 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC

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Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - LABANA
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Tópicos avançados em microeletrônica

Considere dois feixes incidentes distintos – um de elétrons e o outro de íons. Com relação a esses feixes, pode-se afirmar que

tanto os feixes de íons quanto o de elétrons penetram profundamente em amostras com elementos de elevado número atômico.

os feixes de íons penetrarão mais profundamente que o de elétrons, independente da amostra, devido a sua maior quantidade de movimento.

os feixes de íon atravessam completamente qualquer tipo de amostra.

devido as suas maiores dimensões, os íons têm maior probabilidade de interação com átomos da amostra, o que impede que os íons penetrem profundamente a amostra.

em consequência de seu tamanho e de sua energia, uma maior quantidade de raios-X é emitida por uma amostra quando bombardeada por um feixe de íons, comparando-se com a mesma amostra bombardeada por um feixe de elétrons.

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