O feixe de elétrons que incide na amostra, no modo MET, deve ser aproximadamente paralelo, enquanto o feixe, no modo STEM, deve ser focalizado sobre a amostra. O feixe, no modo MET, deve ser estático e a imagem formada é capturada por uma câmera CCD. O feixe, no modo STEM, é dinâmico e o sinal resultante da interação do feixe com a amostra é capturado por uma câmera CCD.

O feixe de elétrons que incide na amostra, no modo MET, deve ser aproximadamente paralelo, enquanto o feixe, no modo STEM, deve ser focalizado sobre a amostra. O feixe, no modo MET, deve ser estático e a imagem formada é capturada por uma câmera CCD. O feixe, no modo STEM, é dinâmico e o sinal resultante da interação do feixe com a amostra é capturado por um detector semicondutor anular.

O feixe de elétrons no modo MET deve ser focalizado sobre a amostra, enquanto o feixe, no modo STEM, é aproximadamente paralelo. O feixe, no modo MET, deve ser estático e a imagem formada é capturada por uma câmera CCD. O feixe, no modo STEM, é dinâmico e o sinal resultante da interação do feixe com a amostra é capturado por uma câmera CCD.

O feixe de elétrons que incide na amostra, no modo MET, deve ser aproximadamente paralelo, enquanto o feixe, no modo STEM, deve ser focalizado sobre a amostra. O feixe, no modo MET, deve ser estático e a imagem formada é capturada por um detector semicondutor anular. O feixe, no modo STEM, é dinâmico e o sinal resultante da interação do feixe com a amostra é capturado por um detector semicondutor anular.

O feixe de elétrons que incide na amostra, no modo MET, deve ser aproximadamente paralelo, enquanto o feixe, no modo STEM, deve ser focalizado sobre a amostra. O feixe, no modo MET, deve ser estático e a imagem formada é capturada por um detector semicondutor anular. O feixe, no modo STEM, é dinâmico e o sinal resultante da interação do feixe com a amostra é capturado por um detector de elétrons secundário (Everhart Thornley).