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Foram encontradas 1.832 questões.

1409201 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Um transistor “npn” tem uma área de emissor de 10 μm x 10 μm. As concentrações de dopantes são as seguintes: no emissor é igual a 1019 cm-3, na base é igual a 1018 cm-3 e no coletor é igual a 1015 cm-3. O transistor está operando a 27 °C e nessa temperatura a concentração de elétrons livres intrínsecos ni = 1010 cm-3. Para os elétrons em difusão na base, o comprimento da região de difusão é igual a 10 μm e a constante de difusão é igual a 20 cm2/s. Para lacunas em difusão no emissor, o comprimento da região de difusão é igual a 0,6 μm e a constante de difusão é igual a 1,8 cm2/s. Supondo que largura da base é igual a 2 μm, pode-se afirmar que os valores da corrente de saturação e do ganho de corrente de emissor comum são iguais a, respectivamente: (nos cálculos, assuma que o valor da carga elétrica elementar é igual a 1,6 x 10-19 C)
 

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1409189 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Sobre CLPs, marque a alternativa falsa.
 

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1409187 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Considere a operação do software Analog Design Environment a partir da sua janela principal. Deseja-se configurar um estímulo a um circuito. Sobre essa ação, considere as alternativas abaixo. A alternativa FALSA é a que diz que
 

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1409180 Ano: 2012
Disciplina: Administração Geral
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Uma empresa decide implementar, como parte de seu programa da qualidade, os preceitos contidos na norma ISO 9001. Dentre as opções abaixo, assinale a alternativa que não deve ser necessariamente implementada de acordo com a norma.
 

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1409093 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Qual deve ser a energia de aceleração do feixe de íons no processo de implantação para se obter em junções rasas (com profundidade menor que 10 nm) em lâmina de Si?
 

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1409087 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Em uma fábrica de semicondutores qual das métricas abaixo não se aplica para avaliação da confiabilidade de operação de um equipamento de processo?
 

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1409081 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Com relação à estrutura dos dados gerados, transmitidos e armazenados durante a execução do fluxo de projeto de circuitos integrados, principalmente utilizando-se as ferramentas comerciais, podemos classificá-los em:
 

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1409031 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Ao flip-flop JK, disparado por borda de subida, são aplicados os sinais conforme a figura a seguir. Analisando-se o comportamento deste circuito, pode-se afirmar que nos instantes de tempo marcados por T1, T2, T3 e T4, a saída Z apresentará, respectivamente, os níveis lógicos
Enunciado 1409031-1
 

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1409024 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
Com respeito à resolução e formação de imagem em um microscópio eletrônico de varredura, pode-se afirmar que
 

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1408972 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: FUNRIO
Orgão: CEITEC
No estrangulamento do filme, na Eletromigração, ocorre
 

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