Vamos supor que temos difratogramas de boa qualidade de uma amostra cuja estrutura cristalina queremos refinar usando o método de Rietveld. Após inseridos os modelos de estruturas atômicas de cada fase, analise as afirmativas a seguir:

I. As posições atômicas e os fatores de ocupação são os primeiros parâmetros adicionados ao refinamento, seguidos pelo ajuste dos parâmetros da célula unitária.

II. Inicialmente, os parâmetros de rede e largura de pico são definidos, e eles são mantidos constantes ao longo do refinamento.

III. Durante os primeiros ciclos de mínimos quadrados, o fator de escala e os coeficientes de linha de base são ajustados, e então gradualmente em ciclos sucessivos outros parâmetros são incluídos.

IV. O refinamento começa com a inclusão de parâmetros de forma de pico, seguidos pela variação dos parâmetros da célula unitária e dos fatores de ocupação.

Assinale

Sobre a preparação de amostras para análises por difração de raios X, analise as afirmativas a seguir:

I. Para minimizar o efeito do deslocamento da amostra, cuidados devem ser tomados na preparação e na fixação (montagem) do material no porta amostras.

II. Uma das falhas mais comuns é o uso de amostras que não foram pulverizadas adequadamente, muitos autores recomendam incorretamente o passante na peneira de malha 325 (44 μm).

III. A moagem excessiva da amostra pode resultar no alargamento dos picos de difração.

IV. A superfície da amostra no porta amostras deve ser plana, sem rugosidades ou curvaturas, e não deve estar inclinada em nenhuma direção.

Assinale

Qual dos seguintes procedimentos não é indicado para fracionamento de amostras de minério para caracterização tecnológica?

Sobre a caracterização mineralógica de minérios, assinale a afirmativa incorreta.

Para a petrografia de minérios metálicos, faz-se necessária a utilização de microscópios metalográficos. A respeito desses estudos, assinale a alternativa correta.

Qual é a principal diferença entre a microscopia óptica e a microscopia eletrônica de varredura (MEV)?

Na técnica de análise de imagem por microscopia eletrônica de varredura, assinale a alternativa correta.

Assinale a afirmativa incorreta sobre a técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV).

Quais são os elementos geralmente identificados por EDXRF na análise mineralógica?

Assinale a alternativa correta sobre emissão de elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE).