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Foram encontradas 280 questões.

1717752 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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Enunciado 1717752-1

Diante do exposto e com base no diagrama de blocos e nos gráficos acima, julgue os itens que se seguem.

Na situação ilustrada pelo gráfico I, para calibrar o instrumento, deve-se aumentar o ganho G.

 

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1717751 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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Enunciado 1717751-1

Diante do exposto e com base no diagrama de blocos e nos gráficos acima, julgue os itens que se seguem.

O aumento da tensão Vd implica o aumento da tensão V s.
 

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1717750 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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Enunciado 1717750-1

Diante do exposto e com base no diagrama de blocos e nos gráficos acima, julgue os itens que se seguem.

A tensão Vs é negativa para valores positivos da corrente I, do ganho G e da tensão Vd .

 

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1717749 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere a procedimentos gerais de manutenção preventiva e corretiva em equipamentos eletrônicos, julgue os itens subseqüentes.

O álcool isopropílico é uma substância comumente usada para limpeza de componentes sensores de equipamentos eletrônicos.
 

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1717748 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere a procedimentos gerais de manutenção preventiva e corretiva em equipamentos eletrônicos, julgue os itens subseqüentes.

A pasta térmica, que deve ser de material isolante, tem como objetivo garantir um bom contato térmico entre dispositivos eletrônicos de potência e o dissipador de calor. Toda vez que o dispositivo for removido e a pasta térmica estiver ressecada, faz-se necessário limpar as partes e colocar uma nova porção de pasta térmica.

 

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1717747 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere a procedimentos gerais de manutenção preventiva e corretiva em equipamentos eletrônicos, julgue os itens subseqüentes.

O teste de transistores deve ser realizado diretamente no circuito usando-se um multímetro, sem que o dispositivo tenha de ser retirado da placa.

 

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1717746 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere a procedimentos gerais de manutenção preventiva e corretiva em equipamentos eletrônicos, julgue os itens subseqüentes.

Quando for manipular placas com circuitos integrados sensíveis a descarga eletrostática, é necessário que o técnico fique eletricamente isolado do ambiente, ou seja, sem nenhum contato elétrico direto com móveis e utensílios.

 

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1717745 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Elétrica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere a procedimentos gerais de manutenção preventiva e corretiva em equipamentos eletrônicos, julgue os itens subseqüentes.

Na verificação de cabos para comunicação de dados ponto-a-ponto entre equipamentos, o contato elétrico deve ser verificado pino-a-pino; por exemplo, o pino n.º 1 de um lado do cabo deve estar conectado ao mesmo pino n.º 1 da outra extremidade.

 

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1717744 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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Enunciado 1717744-1

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito IV, é correto concluir que o diodo D1 encontra-se com defeito, independentemente de D2 estar com defeito ou não.

 

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1717743 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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Enunciado 1717743-1

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito IV, não é possível determinar se o diodo D2 está com defeito apenas a partir da tensão V m. É preciso retirá-lo do circuito para proceder a um teste eficaz com multímetro.

 

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