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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
Os valores de voltagem de aceleração dos elétrons em METs utilizados na caracterização microestrutural de materiais está na faixa de 10 V a 100 V.
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Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
Diferenças de espessura, diferenças de densidade e diferenças no coeficiente de absorção de elétrons na amostra são possíveis mecanismos de contraste nas imagens geradas por um MET.
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Existe um grande número de técnicas de espectroscopia óptica. Em geral, as informações que podem ser obtidas a partir de diferentes técnicas espectroscópicas são complementares entre si, de forma que uma combinação de técnicas pode dar um retrato bastante preciso de uma amostra em particular. Julgue os próximos itens, relacionados com a espectroscopia óptica.
Em geral, espectroscopia óptica na região visível do espectro eletromagnético envolve mudanças dos níveis de energia dos núcleos atômicos.
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Existe um grande número de técnicas de espectroscopia óptica. Em geral, as informações que podem ser obtidas a partir de diferentes técnicas espectroscópicas são complementares entre si, de forma que uma combinação de técnicas pode dar um retrato bastante preciso de uma amostra em particular. Julgue os próximos itens, relacionados com a espectroscopia óptica.
Um espectro Raman contém picos ou bandas com energia maior e com energia menor do que a energia dos fótons utilizados na excitação da amostra.
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Um espectrógrafo de energia de uma microssonda mede o número de elétrons emitidos pela amostra em função da energia cinética dos próprios elétrons.
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Em um espectrógrafo de comprimento de onda de uma microssonda, os raios X emitidos pela amostra são separados por meio da difração em um cristal.
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Os raios X emitidos pela amostra analisada por uma microssonda são direcionados para o detector por um sistema de lentes magnéticas.
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A microssonda usualmente empregada na microanálise de materiais utiliza um canhão eletrônico para incidir um feixe de elétrons sobre a amostra.
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A lei de Moseley relaciona a intensidade de raios X emitida por um átomo com o número de massa desse átomo.
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A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.
Os fótons que compõem a fluorescência de raios X de uma amostra têm energia maior do que as partículas utilizadas na excitação da própria amostra.
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