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A figura acima mostra a árvore de falhas para análise de confiabilidade associada à iluminação de uma sala de controle iluminada por duas lâmpadas ligadas em paralelo. Suponha que o não-funcionamento de pelo menos uma lâmpada deixa a sala às escuras. Diante dessa suposição, julgue o item abaixo.
Os denominados eventos primários que podem deixar a sala às escuras são falta de energia e ambas as lâmpadas estão estragadas.
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Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.
Normalmente, a cada determinação numérica de uma estimativa da taxa de falhas, é possível definir um intervalo de confiança correspondente. Essa informação fornece uma segurança da estimação, sendo possível, assim, estabelecer valores dentro de faixa definida.
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Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.
Se, de 30 unidades observadas, ocorreram 5 falhas durante o tempo de ensaio de 300 horas, o valor estimado da taxa de falhas de uma unidade é igual a 0,02 falha/hora.
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Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.
Para o ensaio em questão, não é possível estimar o tempo médio entre falhas — MTBF (mean time between failures).
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Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.
O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria diferente em relação ao procedimento do ensaio que considera substituição ou reparo.
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Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.
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Durante a fase caracterizada pela parte I da curva, as falhas podem ocorrer, principalmente, devido a problemas ocorridos na manufatura, ou relativos a materiais e componentes.
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Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.
Um transistor observado desde o instante inicial apresenta probabilidade de não falhar em até 1.250.000 horas superior a 33%.
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Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.
A vida útil média de um transistor de silício como o descrito é inferior a 60.000 dias.
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Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.
Se um lote de 1.250.000 unidades desse tipo de transistor for observado durante uma hora, então um desses transistores falhará ao longo desse período.
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