O alinhamento do feixe de elétrons é uma etapa essencial antes da utilização do microscópio eletrônico de transmissão. Indique a opção que descreve a ordem correta do procedimento para o alinhamento da abertura da condensadora.

Muitos microscópios eletrônicos de varredura (MEV) podem operar com pressão variável (entre 1 e 300 Pa) ou com a pressão ainda maior (~2700 Pa; chamado comercialmente de “MEV ambiental”) na câmera em que se encontra a amostra. Indique a opção que descreve corretamente as vantagens de utilizar pressão variável (1-300 Pa) e a pressão “ambiental” (~2700 Pa).

No microscópio eletrônico de varredura, diversos sinais são gerados pela interação do feixe com a amostra, como por exemplo: (1) sinais de elétrons secundários gerados pela interação do feixe de elétrons e a amostra; (2) sinais de elétrons secundários gerados pela interação dos elétrons retroespalhados e a amostra; (3) sinais de elétrons secundários gerados pela interação dos elétrons retroespalhados e a câmera do microscópio; (4) fótons de luz originados pelo processo de catodo luminescência; (5) Raio-x característico. Cada sinal apresenta particularidades e contribui diferentemente no contraste da imagem. O detector cintilador fotomultiplicador (Everhart-Thornley) é utilizado nos microscópios de varredura para formar imagens. Indique que sinal(ais) pode(m) ser capturado(s) pelo detector Everhart-Thornley e que pode(m) contribuir para a formação do contraste na imagem.

Os microscópios eletrônicos de varredura podem variar a voltagem de aceleração do feixe de elétrons de 30 kV até voltagens menores que 1 kV. Assinale a opção que compara corretamente as características de um feixe de elétrons de baixa (1 keV) e alta (30 keV) energia e suas consequências para a formação da imagem.

O diâmetro do feixe de elétrons sobre a amostra (conhecido como Spot Size) no microscópio eletrônico de varredura é um importante parâmetro que pode ser ajustado pelo operador. Considerando que não houve modificação nas aberturas do microscópio, podemos afirmar que quanto menor o Spot Size:

Diferentes detectores são utilizados para capturar imagens no microscópio eletrônico de varredura (MEV) e de transmissão nos modos transmissão (MET) e varredura (STEM). Indique a opção que descreve corretamente os detectores de imagens do MET, STEM e MEV.

A distância de trabalho é um parâmetro importante para a formação da imagem no microscópio eletrônico de varredura. Indique a opção que descreve corretamente a distância de trabalho e seu efeito na imagem.

O microscópio eletrônico de transmissão (MET) pode atingir aumentos de mais de 10⁶ vezes e resolução de aproximadamente 0,1 nm. Assinale a opção que indica a(s) lente(s) do MET responsável(eis) por ajustar a magnificação das imagens.

O microscópio ótico de luz pode atingir aumentos de aproximadamente 10³ vezes enquanto o microscópio eletrônico atinge aumentos de mais de 10⁶ vezes. O microscópio eletrônico apresenta uma resolução espacial superior ao microscópio ótico porque:

As imagens no microscópio eletrônico de varredura são formadas através de um processo de varredura do feixe. Grandes aumentos são necessários para o estudo de nanoestruturas. O aumento no microscópio eletrônico de varredura é controlado: