Em relação à interação entre a amostra e a ponteira na microscopia de força atômica, é correto afirmar:

O Microscópio de Força Atômica pode operar em três regimes diferentes: contato, sem contato e contato intermitente. As afirmações a seguir referem -se a esses regimes.

I O modo contato apresenta resolução atômica. A força atuante é fortemente repulsiva e a ponteira pode provocar danos na superfície da amostra.

II O modo sem contato apresenta uma menor resolução. A força atuante é fortemente repulsiva e a ponteira provoca danos na amostra.

III O modo contato intermitente é o regime que apresenta a melhor resolução. A frequência de vibração é próxima da ressonância. Ele minimiza os danos na amostra.

IV O modo de contato intermitente apresenta baixa resolução. Ele trabalha com forças atrativas e minimiza danos na amostra.

Em relação a esses três regimes, estão corretas as afirmações

Comparando-se um microscópio eletrônico de transmissão por emissão de campo (FEG) com um microscópio eletrônico de transmissão (MET) equipado com filamento de hexaboreto de lantânio, é correto afirmar:

Sobre a técnica EFTEM (Energy Filtered Transmission Electron Microscopy), considere as afirmações a seguir:

I Promove a obtenção de imagens muito nítidas, filtrando-se o ruído de fundo.

II Proporciona a obtenção de imagens filtradas por elemento químico.

III Proporciona a obtenção de imagens de excitação de plasmons.

IV Por proporcionar a filtragem de energia, é uma técnica que proporciona níveis de resolução superiores à técnica de microscopia eletrônica de transmissão convencional.

Em relação a essa técnica, estão corretas as afirmações

A interação do feixe de elétrons primários com a amostra resulta em elétrons de diferentes naturezas. São elétrons com energia acima de 1500 eV, utilizados para a caracterização do tipo de ligação e da natureza química da amostra:

Considere as afirmações abaixo sobre EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy):

I Possibilita a identificação de compostos, já que é sensível ao tipo de ligação eletrônica existente na amostra analisada.

II É uma técnica semelhante à espectroscopia por energia dispersiva e não proporciona a identificação do tipo de ligação atômica existente na amostra.

III Permite a determinação da espessura da região analisada e é útil para posteriores análises que exigem a utilização de lâminas muito finas.

IV Apresenta maior resolução espectral se comparada com a espectroscopia por energia dispersiva.

Em relação a EELS, estão corretas

O canhão eletrônico é um dos componentes essenciais do Microscópio Eletrônico, sendo responsável pela geração do feixe eletrônico e sua aceleração na direção da amostra. A melhor caracterização do feixe de elétrons para o microscópio eletrônico de transmissão é:

A reconstrução de imagens de microscopia eletrônica de transmissão por séries focais é utilizada para

Deseja-se analisar, por Microscopia Eletrônica de Varredura, a seção transversal de um eletrólito cerâmico constituído de Céria dopada com Gadolinia (CGO). Necessita -se quantificar o tamanho de grão e a presença de fases secundárias precipitadas nos contornos de grão. A opção na qual há a melhor especificação das etapas de preparação, dos detectores utilizados para geração das imagens, do detector para análise química e da fonte de elétrons é:

É uma vantagem da tomografia de elétrons em relação à reconstrução 3D a partir de cortes seriados: