Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma amostra sólida, em que sua interação com a superfície espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.

om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.

A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque

A resolução de um microscópio eletrônico de varredura é usualmente entre 1 e 10 nm. Essa resolução só é possível de ser alcançada através de um conjunto de componentes.

Assinale a alternativa que apresenta todos os componentes que, em conjunto, tem como objetivo melhorar a resolução da imagem obtida.

A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de varredura (MEV) decorre da interação entre o feixe de elétrons acelerados e a amostra, promovendo processos de espalhamento elástico ou inelástico. Nesse contexto, cada tipo de elétrons gerado contribui com finalidades distintas para a construção da imagem.

Assinale a alternativa correta que apresenta os dois tipos usuais de elétrons que são utilizados na obtenção da imagem e suas respectivas definições.

Algumas amostras que necessitam ser analisadas por microscopia eletrônica de varredura são sensíveis às condições usuais em que o equipamento opera.

Quais são as condições experimentais que são necessárias para esse tipo de medida?

Medidas realizadas em um microscópio eletrônico de varreduras são usualmente feitas em alto vácuo.

Considerando o processo de formação de imagens, selecione a razão pela qual as medidas são realizadas nessa condição.

A microscopia confocal apresenta diversas vantagens frente a um microscópio convencional. Ela usualmente é utilizada em microscópios de Raman e infravermelho, com o objetivo de obter informação espaciais em alta resolução, principalmente no eixo z, considerando que os eixos x e y formam o plano.

Dentro desse contexto, qual é o principal componente de um microscópio confocal que permite obter imagem no eixo z?

Há diversas vantagens em utilizar lentes eletrostáticas em comparação às lentes magnéticas.

Assinale a alternativa que apresenta exclusivamente as vantagens inerentes às lentes eletrostáticas em comparação às lentes eletromagnéticas.

Quando uma imagem permanece embaçada mesmo estando na distância focal ideal, indica que há um tipo de aberração gerado pelas lentes que compõem o sistema óptico.

Assinale a alternativa que apresenta dois tipos de aberrações axiais existentes e como minimizá-las.

Sobre a manutenção preventiva em microscópios eletrônicos de varredura, assinale a alternativa correta.