A técnica de difração de raios X é amplamente empregada na análise estrutural de materiais grafíticos. A partir do pico 002 presente nos difratogramas desses materiais são determinadas as distâncias entre os planos hexagonais de carbono nos cristalitos de grafite e a altura média de empilhamento desses planos. A figura acima apresenta os difratogramas de raios X para a região correspondente ao pico 002, obtidos para dois materiais grafíticos com diferentes graus de ordenamento.

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A distância entre os planos hexagonais de carbono (d₀₀₂) nos cristalitos de grafite pode ser calculada com auxílio da Lei de Sherrer, d₀₀₂=\( \dfrac{k\lambda}{\beta cos \theta} \) , em que K representa uma constante característica dos materiais grafíticos, 8, o comprimento de onda da radiação incidente, \( \beta \), a largura a meia altura do pico de difração, e \( \theta \), o ângulo de difração.