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Respondida
1724766
Ano:
2008
Disciplina:
Engenharia Química
Banca:
UFLA
Orgão:
UFLA
Provas:
Químico
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Na análise de um material por difratometria de raios-X, observou-se que a linha base aumentava em uma taxa constante com o aumento do ângulo 2 θ; esse fenômeno pode ter como causa:
A
a fluorescência de raios-X gerada por alguma espécie presente na matriz analisada.
B
a falta de correção da linha base, que deveria ter sido ajustada antes do início da análise.
C
a grade de difração do aparelho não estar filtrando a luz espúria.
D
o filtro de radiação eletromagnética de baixa energia não estar funcionando.
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