O tempo de vida de um dispositivo eletrônico tem função densidade de probabilidade !$ f(x)=θ e^{- θ x} !$, !$ x > 0 !$, !$ θ > 0 !$. Para estimar !$ θ !$, testamos !$ n !$ dispositivos. Para diminuir os custos, não são observadas as vidas dos dispositivos, mas anotamos no instante !$ T !$, o número !$ r(r < n) !$ de dispositivos que falham (logo, existirão !$ (n-r) !$ dispositivos na amostra com vida maior que T). Obtenha o Estimador de Máxima Verossimilhança de !$ θ !$.