Na preparação de amostras para obtenção de imagens por microscopia eletrônica de varredura, deve-se levar em consideração a possibilidade do fenômeno do carregamento, o qual poderá introduzir artefatos na imagem ou, até mesmo, causar sérias distorções e instabilidades, impossibilitando que ela seja obtida. Analise as afirmativas a seguir, a respeito do carregamento.
| I | O carregamento pode ocorrer mesmo em amostras aterradas. |
| II | O carregamento pode ser evitado com o recobrimento de amostras não condutoras com filmes finos metálicos ou não-metálicos, desde que de material condutor. |
| III | O carregamento pode ser evitado em amostras pouco condutoras sem recobrimento aumentando-se a voltagem de aceleração do feixe primário. |
Dessas afirmativas, apenas:
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Técnico de Laboratório - Microscopia Eletrônica
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