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Foram encontradas 30 questões.

45461 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Analise as afirmativas abaixo, sobre a preparação de amostras para microscopia eletrônica de varredura.

I

As superfícies de amostras cerâmicas e poliméricas podem ser lixadas e polidas com diamante para análise por microscopia eletrônica de varredura.

II

Para se obter boa resolução de imagem, na análise de amostras poliméricas, devem ser aplicadas tensões acima de 20 kV.

III

O recobrimento de amostras biológicas pode ser evitado utilizando-se análise em baixo vácuo ou modo ambiental.

Dessas afirmativas,apenas

 

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45460 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Na preparação de amostras para obtenção de imagens por microscopia eletrônica de varredura, deve-se levar em consideração a possibilidade do fenômeno do carregamento, o qual poderá introduzir artefatos na imagem ou, até mesmo, causar sérias distorções e instabilidades, impossibilitando que ela seja obtida. Analise as afirmativas a seguir, a respeito do carregamento.

I

O carregamento pode ocorrer mesmo em amostras aterradas.

II

O carregamento pode ser evitado com o recobrimento de amostras não condutoras com filmes finos metálicos ou não-metálicos, desde que de material condutor.

III

O carregamento pode ser evitado em amostras pouco condutoras sem recobrimento aumentando-se a voltagem de aceleração do feixe primário.

Dessas afirmativas, apenas:

 

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45459 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Sobre a análise química de uma amostra por espectroscopia dispersiva de comprimento de onda (WDS) e por espectroscopia dispersiva de energia (EDS), é correto afirmar:

 

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45458 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Na geração de espectros de raios-X, para análise química de um material, podem surgir artefatos que devem ser levados em consideração durante o processo de interpretação do espectro. Um deles é o pico de escape, que está relacionado a

 

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45457 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

A figura abaixo mostra as energias de ionização das séries K, L e M, em função do número atômico do elemento químico.

Enunciado 3895774-1

Considere que um MEV está operando a 20 keV e, tendo por base a figura anterior, observe as afirmativas abaixo, sobre a análise por espectroscopia dispersiva de energia (EDS):

I

Na análise por EDS de elementos químicos a partir do potássio (Z = 19), a radiação K aparece sempre como um dubleto (Kα, Kβ) e a energia da transição Kβ é sempre maior que a energia da transição Kα.

II

A separação dos constituintes das famílias K e L torna-se imperceptível abaixo de 7 keV.

III

A análise química por EDS para detectar a presença de lantanídeos (Z entre 57 e 71) pode ser baseada na família K.

Das afirmativas acima, apenas:

 

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45456 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Uma amostra de Fe-NbC foi analisada por microscopia eletrônica de varredura, gerando-se as imagens (1) e (2), abaixo, da mesma região da amostra. Uma delas foi gerada com o detector Everhart-Thornley (ET), e a outra com um detector de estado sólido.

Enunciado 3895771-1

Dados: Números atômicos: Z(C) = 6; Z(Fe) = 26; Z(Nb) = 41.

Com base nas informações acima e nas imagens, é correto afirmar:

 

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45455 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

A imagem (1), a seguir, foi obtida a partir de elétrons coletados por um detector do tipo Everhart-Thornley (ET). Após ajuste da voltagem do detector, foi obtida a imagem (2) da mesma área retratada na imagem (1), também a partir de elétrons coletados por um detector ET. As coleções de elétrons secundários (linhas tracejadas) e retroespalhados (linhas contínuas), nos dois casos, são ilustradas pelas condições (A) e (B).

Enunciado 3895770-1

Considerando-se as ilustrações acima, é correto afirmar:

 

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45454 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

As figuras abaixo apresentam três simulações de Monte Carlo da interação de um feixe de elétrons incidente em uma amostra de ferro.

Enunciado 3895769-1

Comparando-se os resultados das três simulações, é correto afirmar:

 

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45453 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

As imagens abaixo foram geradas com 2.500 x de aumento, a partir de elétrons secundários, observando-se partículas de um material não- metálico de baixo número atômico.

Enunciado 3895767-1

A imagem da figura A tem melhor nitidez pois foi gerada

 

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45452 Ano: 2009
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: UFRN
Orgão: UFRN

Em relação ao volume de interação de um feixe de elétrons com uma amostra, considere as seguintes afirmativas.

I

O volume de interação depende do número atômico médio da amostra.

II

O volume de interação depende da energia do feixe de elétrons.

III

O volume de interação depende do coeficiente de retroespalhamento da amostra.

Dentre as afirmativas, apenas

 

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