Questão 3292604

3292604 Ano: 2012
Disciplina: Engenharia Química
Banca: IDECAN
Orgão: INT

Provas:

Pesquisador Adjunto - Catálise
Provas ×

Métodos InstrumentaisOutros Métodos Instrumentais

Acerca da espectroscopia fotoeletrônica de raios-x (XPS), é correto afirmar que

o espectro de XPS fornece informações sobre a estrutura cristalina do material.

no espectro de XPS, a intensidade dos fotoelétrons é representada como uma função do seu comprimento de onda.

o XPS é uma técnica de superfície, analisando normalmente profundidades entre 5 e 30 nm, dependendo da energia cinética dos fotoelétrons.

as energias de ligação de um mesmo elemento variam conforme o seu estado químico e, em geral, aumentam conforme o número de oxidação e a eletronegatividade dos ligantes.

os elétrons Auger não aparecem no espectro de XPS.

Provas

Questão presente nas seguintes provas

Pesquisador Adjunto - Catálise

50 Questões

Provas

Pesquisador Adjunto - Catálise

Acesse sua Conta

Crie uma Conta