A técnica de difração de raios X é amplamente empregada na análise estrutural de materiais grafíticos. A partir do pico 002 presente nos difratogramas desses materiais são determinadas as distâncias entre os planos hexagonais de carbono nos cristalitos de grafite e a altura média de empilhamento desses planos. A figura acima apresenta os difratogramas de raios X para a região correspondente ao pico 002, obtidos para dois materiais grafíticos com diferentes graus de ordenamento.

Considerando o texto e a figura, julgue o próximo item.

O material B apresenta altura média de empilhamento dos planos hexagonais de carbono maior que o material A.