Considere que um multímetro que permite testar transistores bipolares esteja sendo usado no modo de medição de resistência para o teste de um transistor do tipo NPN. Nessa situação, caso a ponta de prova com maior potencial seja colocada na base do transistor e a de menor potencial, no emissor, a resistência medida será muito menor do que a resistência medida ao se colocar a ponta de prova com menor potencial na base e a de maior potencial, no emissor — assumindo-se que o transistor não esteja danificado.