Considerando os procedimentos possíveis de serem realizados para o teste e verificação de problemas com circuitos integrados (CI) de portas lógicas, as seguintes afirmações são feitas:

I. Quando for realizado o teste de portas E (AND), é sempre importante colocar os pinos que não estão sendo utilizados em nível alto, a fim de permitir a verificação da operação da porta pulsando um dos pinos da mesma e verificando a saída gerada através de um osciloscópio.

II. Quando for realizado o teste de portas OU (OR), é sempre importante colocar os pinos que não estão sendo utilizados em nível alto, a fim de permitir a verificação da operação da porta pulsando um dos pinos da mesma e verificando a saída gerada através de um osciloscópio.

III. A fim de verificar se o problema de uma porta lógica está associado à saída da porta estar aberta (ou seja, desconectada do pino do CI), para o caso de uma porta NÃO-OU (NOR), basta colocar uma das entradas em nível baixo e pulsar a outra entrada. Caso a saída não apresente pulsação no osciloscópio, podemos afirmar que o problema trata-se da desconexão da saída.

IV. Caso um pino de entrada de um CI da família TTL seja deixado flutuando (desconectado), o efeito perante o restante do circuito será como se essa entrada estivesse conectada a um nível lógico 1 (alto).

Considerando as afirmativas I, II, III e IV, quais estão CORRETAS?