Em uma linha de produção de circuitos integrados, os testes demandam uma grande parte do tempo e de homens-hora por peça gastos no processo. Em contrapartida, é um passo essencial na cadeia produtiva, permitindo muitas vezes detectar antecipadamente falhas no processo produtivo, evitando custos desnecessários. Com relação aos testes de semicondutores, analise as seguintes sentenças e assinale a opção correta:

I) O BISR (Built-In-Self-Repair) é uma técnica muito utilizada na fabricação de memórias.

II) Na fabricação de memórias, quando estas apresentam um padrão de repetitividade de blocos funcionais, podem ser criados blocos extras dentro do circuito que no caso de uma falha pontual podem substituir os blocos problemáticos.

No press release, o texto deve

Marque a alternativa que indica a porta TCP em que é executado o serviço de diretório OpenLDAP com SSL.

Para se projetar um pixel de memória flash, não volátil, com dimensões mínimas compatível com tecnologia CMOS é necessário

Qual alternativa está errada no que tange aos usos dos sensores?

Um técnico está realizando uma sequência de operações de testes em laboratório. Um dos equipamentos necessários ao teste é um gerador de RF. Nas instruções de teste, existe a indicação de que se necessita de um sinal de 900 MHz, modulado em frequência, com potência de 20 mW. Porém, o gerador em uso somente permite ajustar o nível de potência de saída em dBm. A potência de saída deve ser ajustada para:

O formulário utilizado para execução e controle de tarefas, atribuindo responsabilidades e determinando as circunstâncias em que o trabalho deverá ser realizado, é chamado de

Quanto à auditoria interna, é correto afirmar que

Empregando-se o Método de Análise do Modo e Efeito de Falha (FMEA) em um sistema, foram reportados 6 (seis) tipos diferentes de falhas. Cada uma dessas falhas ocorreu com uma determinada frequência, assim listadas:

FALHA	FREQUÊNCIA DE OCORRÊNCIA
1	2%
2	10%
3	17%
4	9%
5	56%
6	6%

Em razão dos valores apresentados acima, assinale o Diagrama de Pareto que representa corretamente a ocorrência dessas falhas.