I. Em verificação de caixa preta (“black-box verification”), a verificação funcional é realizada sem conhecimento da implementação do RTL.

II. Em verificação de caixa branca (“white-box verification”), a verificação funcional é realizada tendo visibilidade completa do projeto digital implementado.

Sobre as afirmações acima, pode-se dizer que:

Maior anisotropia na corrosão de Si por plasma é obtida em misturas de gases com inclusão de gases:

Controlar os defeitos gerados na lâmina é mais crítico para dispositivos/circuitos com menores características de tamanho, alta densidade e em lâminas maiores. Dessa forma, a indústria eletrônica tem investido cada vez mais em minimizar os defeitos na máscara. Isso porque os defeitos em uma máscara/retículo acabam causando defeitos na lâmina (substrato) ou desvio de padrão. Um dos defeitos comuns que ocorrem na máscara/retículo é a contaminação com sujeira ou manchas na parte clara da máscara/retículo. Em óptica litográfica, esses defeitos podem ter a seguinte consequência:

Dado o circuito lógico abaixo onde A, B e C são suas entradas primárias e G sua saída primária, qual dos vetores de teste abaixo detectam uma falha do tipo “stuck-at 0” em E.

Na reunião de iniciação de contrato para alinhamento de expectativas, após a imprescindível publicação resumida do instrumento de contrato assinado, o fiscalizador do contrato deve reunir todos os atores que desempenhem papéis relevantes na contratação para:

1) Verificar a compreensão do objetivo, do objeto, do modelo de prestação de serviços, do modelo de gestão, das obrigações e das penalidades.

2) Realizar um cotejamento do edital, do contrato e dos termos da proposta vencedora.

3) Dar ênfase na necessidade de manutenção das condições habilitatórias e da proposta técnica.

4) Promover a confirmação de cronogramas, das etapas e do faturamento.

Marque a resposta certa.

Observe as afirmativas abaixo.

I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.

II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.

III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.

IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.

As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

Tendo em vista o fluxo de implementação de um projeto digital de um Circuito Integrado de Aplicação Específica (ASIC – “Application Specific Integrated Circuit”), pode-se afirmar que o processo de “Floorplanning”

A chave de registro KLM\SYSTEM\CurrentControlSet\Services\BITS, no Windows Server 2008

Em relação à taxa interna de retorno (TIR) usada como método de análise de investimentos, pode-se afirmar que:

O que significa CD (Critical Dimension) in microlitografia?