A densidade de defeitos de superfície não é um parâmetro crítico para o desempenho de dispositivos semicondutores orgânicos.

Os dispositivos eletrônicos da atualidade não têm as suas funcionalidades definidas pelas propriedades elétricas das interfaces entre os diferentes materiais que os compõem.

Uma limitação importante da espectroscopia de elétrons Auger é a sua baixa resolução espacial.

As propriedades ópticas de um material são influenciadas por sua porosidade.

A microscopia de ponta de prova é ineficaz e por isso pouco utilizada na análise topográfica de uma superfície.

A identificação dos átomos presentes na superfície de um material pode ser efetuada a partir da análise das energias de fotoelétrons.

A espectroscopia de elétrons Auger possibilita a determinação da composição química da superfície de um material.

As propriedades físicas e químicas de um material dependem da relação entre o número de átomos na superfície e o número de átomos no corpo do material.

Materiais porosos têm sido empregados como reatores químicos em escala nanoscópica.

A energia de uma dada superfície, com área superficial fixa, não pode ser reduzida pela adsorção de espécies.