Foram encontradas 473 questões.
O que limita a resolução espacial de um microscópio é a natureza
ondulatória da luz causando efeito de difração. Isso limita a região
espectral na microscopia tradicional para uma resolução de
200-300 nm, no melhor dos casos, com a exceção de sistemas de
fotolitografia utilizando luz ultravioleta no vácuo a que chega a
100 nm de resolução. Atualmente, para o limite da nanotecnologia,
desenvolveu-se a técnica de microscopia óptica de campo
próximo que quebra o limite de resolução de campo distante
explorando as propriedades de ondas evanescentes. Em ordem
de grandeza comparada com o comprimento de onda da luz
incidente, pode-se definir os limites para a difração de campo
próximo (difração de Fresnel) e a de campo distante (difração de
Fraunhofer) para diversas aplicações. Considerando uma fonte de
radiação no infinito, qual é a menor distância entre uma fenda
única com abertura de 0,50 mm e o anteparo de formação de
imagens para uma radiação de comprimento de onda de 500 nm
poder ser tratada como campo distante (difração de Fraunhofer)?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Certos cristais semicondutores são sintetizados e apresentam
uma propriedade chamada atividade óptica, que é responsável por
girar a polarização de um feixe de luz polarizada ao atravessá-los
em uma determinada direção. Considere um cristal semicondutor
opticamente ativo em forma de cubo com 8 mm de aresta,
conforme mostrado na figura. Um feixe de laser incide
perpendicularmente ao plano xy do cristal com polarização – i e
emerge do outro lado com polarização + i. Qual a atividade óptica
do cristal?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Na construção de micro ou nanoestruturas em laboratório, ao
observarmos objetos através de um microscópio óptico ou
eletrônico, frequentemente nos deparamos com o problema de
distingui-los pelo fato de eles estarem muito próximos uns dos
outros. Qual propriedade do instrumento está associada à
capacidade de fazer essa distinção durante a observação?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma técnica
capaz de produzir imagens de alta ampliação (até 300.000 vezes)
e resolução. O princípio de funcionamento do MEV consiste na
emissão de feixes de elétrons por um filamento capilar de
tungstênio (eletrodo negativo), mediante a aplicação de uma
diferença de potencial que pode variar de 0,5 a 30 kV. Essa
variação de voltagem permite a variação da aceleração dos
elétrons, e também provoca o aquecimento do filamento. A parte
positiva em relação ao filamento do microscópio (eletrodo positivo)
atrai fortemente os elétrons gerados, resultando numa aceleração
em direção ao eletrodo positivo. A correção do percurso dos feixes
é realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em
direção à abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes
de elétrons antes dos elétrons atingirem a amostra analisada.
Disponível em: <www.degeo.ufop.br/laboratorios/microlab/mev.htm . Acesso em: 20 jul. 2016.
Qual é o processo de formação de imagem do MEV e qual a outra
técnica analítica que pode ser associada ao equipamento?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Feixes de luz laser geralmente são produzidos com intensidades
luminosas relativamente altas; entretanto, alguns experimentos de
investigação da matéria condensada em laboratórios de pesquisa
exigem intensidades ainda maiores que podem ser obtidas através
do uso de lentes colimadoras de feixes. Um feixe de laser de perfil
circular uniforme com 1,6 mm de diâmetro e 2 W de potência teve
seu diâmetro reduzido 8 vezes ao atravessar uma lente
convergente. Qual a Intensidade do feixe de laser no foco da
lente? (Use π = 3,14)
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Para estudar a estrutura cristalina de um substrato semicondutor
utilizado no desenvolvimento de dispositivos microestruturados,
um técnico dos Laboratórios de Microtecnologia Aplicada utiliza a
técnica de difração de raios X. Segundo indicação do fabricante
do difratômetro de raios X, que utiliza a técnica de medição na
configuração θ-2θ, conforme indicado na figura, o comprimento de
onda da radiação é 0,229 nm.
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Os materiais semicondutores são de grande importância para a
eletrônica moderna. Em particular, o sucesso dos semicondutores
intrínseco se deve a uma propriedade elétrica que é controlada de
forma apropriada em laboratório pela adição de impurezas.
Que propriedade é essa?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
O critério para a seleção de uma tecnologia específica para
deposição de filmes finos pode ser baseado numa variedade de
considerações técnicas. A diversidade de tipos de filmes finos de
diferentes materiais pode ser depositada para uma variedade de
aplicações dependendo de sua aplicação. Como se sabe, as
características de um filme fino são diferentes de suas
propriedades como “bulk”. Qual característica do filme depositado
é considerada como decisiva na escolha da tecnologia de
deposição?
Provas
Questão presente nas seguintes provas
O interferômetro de Michelson é um importante dispositivo
experimental baseado no efeito de interferência entre ondas
eletromagnéticas coerentes. Seu princípio de funcionamento é
baseado em um feixe de luz monocromática que é dividido em dois
percorrendo caminhos ortogonais entre si. Padrões de
interferência apresentando franjas são observados em um
anteparo quando esses feixes que estão ópticamente alinhados
se interferem. Este aparato apresenta uma grande capacidade de
resolução para detectar alterações nos caminhos ópticos dos dois
braços. A grande precisão da medida para detectar
deslocamentos entre posições dos máximos e mínimos das
franjas de interferência possibilitou a sua utilização por
Michelson-Morley para comprovação da não existência do Éter.
O interferêmetro montado sobre uma base giratória permitia
alternar seus braços com relação à direção de rotação da Terra
em sua órbita em torno do sol. Considerando-se que a luz
monocromática utilizada no experimento era de 550 nm, o
caminho óptico de cada braço do interferômetro era igual e media
11,0 m, e considerando que a velocidade de translação da Terra
em torno do Sol é de 30 km/s, qual o deslocamento esperado entre
as franjas quando o interferômetro era girado de 90º com
relação à direção de translação da Terra em sua órbita?
(Considere c = 300.000 km/s).
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Dentre as ligações moleculares, aquela que é regida
essencialmente pelas interações do tipo dipolo elétrico – dipolo
elétrico é a ligação
Provas
Questão presente nas seguintes provas
Cadernos
Caderno Container